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SAMBA HAIR SYSTEM HAIR Visual Appearance Study System (HVASS) SAMBA ビデオ センサーフォーマット Digital IEEE-1394, colour 8 bits visualization, 12 bits data processing,778
x 578 pixels 測定の精度 0.1% 繰返し測定精度 <2% 光源 インバータータイプ 蛍光灯 Windows XP/ VISTA シリンダーサイズ 直径 10cm 幅 2.5cm 毛髪の理想的サイズ 直径 17cm 幅 2cm 厚さ 2mm 電源 110/220 V, 50/60 Hz SAMBA FACE SYSTEM(サンバ)(FACE Visual Appearance Study System (FVASS): SAMBA ビデオセンサーフォーマット Digital IEEE-1394, カラー, 1388 x 1038 pixels 光源 高周波蛍光灯 (x2) 視野 フェイス用 唇用のレンズ 位置決め 頬あて 測定精度 0.1% データ再現性 (顔の位置のセットし直しによる) <2% ご利用可能なPC Windows XP/ VISTA ソフトウエア VAS (Visual Appearance Study) Software 電源 110/220 V, 50/60 Hz SAMBA (サンバ)(Fast Polarization CAMERA) SAMBA 肌診断、表面形状画像処理システム TEMPO & QUARTET
レーザー干渉計・変位計 カルテットQUARTETとテンポTEMPO 広帯域測定 簡単な操作 高感度、高安定性 アプリケーション例:(レーザー誘起)超音波計測、オンライン検査、厚み測定、ボンディング、コーティング検査、溶接結果検査カルテット:高安定性、簡単な操作、コンパクト、フリースペ ースで頑丈なデザイン、20MHzまでの繰り返し、低コストでの問 題解決、サイズ:400x230x110mm、電源:110/220V, 50/60Hz TEMPO テンポ NESD (Noise Equivalent Surface Displacement) 2. 10 -7nm ( W/Hz)1/2 アナログ信号処理 AC signal (50 ohms BNC) 表面に比例 検出帯域幅(上限) 20 MHz, 120 MHz 又は 1 GHz 検出帯域幅(下限) 20 KHz, 100 KHz 又は1 MHz standard フォトリフラクティブ 低周波のカットオフ 10Hz – 100Hz (レーザーの出力とクリスタルによる) 動作波長 532 nm CW レーザーパワー 150 mW 400 mW internalから 15 W external サンプルのスポット直径 150 から 750 microns 計測距離 100 から 500 mm オプティカルコレクション F number N = 2, 4, 10 バックフォーカス 2 から 50 mm Absolute 変位センサの絶対的校正 較正係数の自動表示(mV/nm) テンポのサイズ 495 x 305 x 114 mm (19.5”x12”x4.5”) – 20 lbs 電源 110/220 V, 50/60 Hz 利用可能な周辺機器 2D Scanner, fiber head, custom designs QUARTET カルテット NESD(ショットノイズ測定) 2.10-7 nm/√Hz on highly diffusive surface レーザーパワー 50 mW から 400 mW @ 532 nm サンプル どんな表面 / 素材でも可能 アナログ信号処理 AC シグナル (50 Ohms) 検出帯域幅(上限) 2 MHz から 20 MHzまで 検出帯域幅(下限) 20 KHz から 1 MHz(アプリケーションによる) サンプルのスポット直径 50 microns Optical Stand-off 調整可能 口径 N 10 から 50 Absolute 変位センサの絶対的校正 較正係数の自動表示(/nm) 電源 110/220 V, 50/60 Hz サイズ / 重量 330 mm x 305 mm x 114 mm (13”x12”x4.5”) - 15 lbs |
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